Corso carte di controllo e capacità processo
TITOLO DEL CORSO |
Capacità dei processi: Cp e Cpk, Pp e Ppk, Cm e Cmk, capability, e sulle carte di controllo |
DESTINATARI |
responsabili qualità - responsabili prove – responsabili laboratori – ispettori – auditor – responsabili di processo – responsabili di produzione - progettisti |
DURATA |
corso erogabile in 2 o 3 giorni – personalizzabile in base alle attività eseguite dal laboratorio o dall'azienda |
INDICE |
1° MODULO: CAPACITA' DI PROCESSO
- Il controllo statistico di processo SPC
- Definizione delle caratteristiche e delle variabili
- Il concetto di distribuzione statistica
- Gli istogrammi delle distribuzioni statistiche
- La distribuzione "normale" o "Gaussiana"
- La moda, la mediana, la varianza e lo scarto tipo (misure di posizione e di dispersione), la tolleranza naturale
- Verifica delle distribuzioni
- Le distribuzioni non normali e i relativi grafici di probabilità
- Definizione della capacità di processo; Cp e Cpk, Pp e Ppk, Cm e Cmk, capability, Indici di capacità per distribuzioni non normali - Calcolo della capacità di processo e suo significato e interpretazione
- Monitoraggio nel tempo
- Azioni correttive e miglioramenti di processo
2° MODULO – CARTE DI CONTROLLO PER VARIABILI
- ntroduzione alle carte di controllo e loro significato statistico – le norme di riferimento ISO 7870-2 e UNI ISO 5725
- Carte di controllo xm-R (media, escursione)
- Carte di controllo x-R (mediana, escursione)
- Carte di controllo xm-σ (media, deviazione standard)
3° MODULO: ALTRI TIPI DI CARTE DI CONTROLLO PER VARIABILI
- Carta dei dati individuali
- Carta dei valori singoli (a media ed escursione mobile)
- Carta a limiti estesi
4° MODULO: INTERPRETAZIONE DELLE CARTE
- Scelta delle carte di controllo
- Interpretazione delle carte di controllo: le condizioni di fuori controllo – andamenti
- Azioni correttive e miglioramenti di processo
5° MODULO: CARTE DI CONTROLLO PER ATTRIBUTI
- Introduzione alle carte di controllo e loro significato statistico
- Carte di controllo: p o della percentuale di difettosi
- Carte di controllo: pn o del numero assoluto di difettosi
- Carte di controllo: u o del numero medio di difetti per prodotto controllato
- Carte di controllo: c o del numero di difetti per campione
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