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TITOLO DEL CORSO Capacità dei processi: Cp e Cpk, Pp e Ppk, Cm e Cmk, capability, e sulle carte di controllo
DESTINATARI responsabili qualità - responsabili prove – responsabili laboratori – ispettori – auditor – responsabili di processo – responsabili di produzione - progettisti
DURATA corso erogabile in 2 o 3 giorni – personalizzabile in base alle attività eseguite dal laboratorio o dall'azienda
INDICE 1° MODULO: CAPACITA' DI PROCESSO
  • Il controllo statistico di processo SPC
  • Definizione delle caratteristiche e delle variabili
  • Il concetto di distribuzione statistica
  • Gli istogrammi delle distribuzioni statistiche
  • La distribuzione "normale" o "Gaussiana"
  • La moda, la mediana, la varianza e lo scarto tipo (misure di posizione e di dispersione), la tolleranza naturale
  • Verifica delle distribuzioni
  • Le distribuzioni non normali e i relativi grafici di probabilità
  • Definizione della capacità di processo; Cp e Cpk, Pp e Ppk, Cm e Cmk, capability, Indici di capacità per distribuzioni non normali - Calcolo della capacità di processo e suo significato e interpretazione
  • Monitoraggio nel tempo
  • Azioni correttive e miglioramenti di processo
2° MODULO – CARTE DI CONTROLLO PER VARIABILI
  • Introduzione alle carte di controllo e loro significato statistico – le norme di riferimento UNI ISO 8258 e UNI ISO 5725
  • Carte di controllo xm-R (media, escursione)
  • Carte di controllo x-R (mediana, escursione)
  • Carte di controllo xm-σ (media, deviazione standard)
3° MODULO: ALTRI TIPI DI CARTE DI CONTROLLO PER VARIABILI
  • Carta dei dati individuali
  • Carta dei valori singoli (a media ed escursione mobile)
  • Carta a limiti estesi
4° MODULO: INTERPRETAZIONE DELLE CARTE
  • Scelta delle carte di controllo
  • Interpretazione delle carte di controllo: le condizioni di fuori controllo – andamenti
  • Azioni correttive e miglioramenti di processo
5° MODULO: CARTE DI CONTROLLO PER ATTRIBUTI
  • Introduzione alle carte di controllo e loro significato statistico
  • Carte di controllo: p o della percentuale di difettosi
  • Carte di controllo: pn o del numero assoluto di difettosi
  • Carte di controllo: u o del numero medio di difetti per prodotto controllato
  • Carte di controllo: c o del numero di difetti per campione